熒光滲透檢測(cè)線用于檢測(cè)金屬材料或零件的裂紋或缺陷。
常用的探傷方法有:x射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷(彩色探傷)、渦流探傷、射線探傷、熒光探傷等。
       一般磁粉探傷儀廠家在這里著重于物理探傷，物理探傷是在無(wú)化學(xué)變化的情況下進(jìn)行無(wú)損探傷。在不破壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下，檢測(cè)被檢零件表面和內(nèi)部質(zhì)量的檢測(cè)手段稱(chēng)為無(wú)損檢測(cè)。
X射線探傷是利用X射線穿透物體的一種檢查方法。當(dāng)遇到缺陷時(shí)(面積型缺陷更有效)，射線能量會(huì)減弱，使圖像在平板上形成，類(lèi)似于我們所拍攝的平板?？梢栽谟^察燈下觀察。
       超聲檢測(cè)是使用超聲波可以穿透到金屬材料的深處,并由一截面進(jìn)入另一個(gè)部分,邊緣的界面缺陷的反射特征,方法檢查零件表面的超聲波束時(shí)探針通過(guò)里面的金屬零件,分別與部分當(dāng)?shù)撞糠瓷洳ㄓ龅饺毕莅l(fā)生在屏幕上形成脈沖波形,根據(jù)脈沖波形判斷缺陷的位置和大小。
熒光滲透檢測(cè)線和超聲波探傷是兩種最常用的檢測(cè)內(nèi)部缺陷的方法。
        渦流探傷是利用電磁感應(yīng)原理檢測(cè)導(dǎo)電元件表面和近表面缺陷的一種探傷方法。其原理是利用勵(lì)磁線圈在導(dǎo)電元件中產(chǎn)生渦流，利用檢測(cè)線圈測(cè)量渦流的變化，從而獲得該元件缺陷的信息。
       根據(jù)檢測(cè)線圈的形狀，可以分為三種類(lèi)型:通型(用于檢測(cè)電線、棒和管道)、探頭型(用于局部檢測(cè)元件表面)和插入型(用于孔的內(nèi)部檢測(cè))。